美国杜克大学研究员、新生儿学专家艾瑞克·J·本纳博士及其研究团队发现，孕妇在妊娠早期发高烧本身就是导致胎儿唇腭裂（又称兔唇）的一个关键原因。
研究人员研制出一种非侵入性磁力技术，利用该技术可创建高烧模式。进入模拟高烧模式后，胚胎就会出现颅骨面部畸形以及心脏缺陷等趋势，缺陷类型取决于高烧发生在心脏、头颅和面部发育的具体时间段。
研究人员尚不清楚孕妇早期高烧导致胎儿缺陷的严重程度和持续时间。自上世纪80年代初以来，科学家就已经知道新生儿出生缺陷与母亲孕期高烧存在关联，但是其具体机理却一直是不解之谜。新研究结果表明，应该让更多的育龄女性明白孕期高烧是新生儿缺陷的一大风险因素。孕期发高烧应及时就医，切勿咬牙硬扛。
